特許
J-GLOBAL ID：200903053602673296
LSIテスタ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-271246
公開番号（公開出願番号）：特開平5-107307
出願日： 1991年10月18日
公開日（公表日）： 1993年04月27日
要約：
【要約】【目的】 デジタルモジュ-ルとアナログモジュ-ルとを高速にかつ正確に同期して制御し、アナログ回路とデジタル回路の混載したLSIを精度良く測定する。【構成】 異なったコントロ-ラによってデジタルモジュ-ルとアナログモジュ-ルが制御されるLSIテスタにおいて、コントロ-ラにテストプログラムをロ-ドする上位のテストシステムコントロ-ラと、デジタルモジュ-ルのアドレス発生器のアドレスに基づき、アナログモジュ-ルと同期をとるコ-ドを出力するコ-ドメモリと、コ-ドメモリのコ-ドに基づいてアナログモジュ-ルのアドレス発生器にアドレスを指定するシ-ケンス発生回路とを設け、デジタルモジュ-ルとアナログモジュ-ルとが同期するようにした。
請求項（抜粋）：
異なったコントロ-ラによってデジタルモジュ-ルとアナログモジュ-ルが制御されるLSIテスタにおいて、前記コントロ-ラにテストプログラムをロ-ドする上位のテストシステムコントロ-ラと、前記デジタルモジュ-ルのアドレス発生器のアドレスに基づき、前記アナログモジュ-ルと同期をとるコ-ドを出力するコ-ドメモリと、このコ-ドメモリのコ-ドに基づいて前記アナログモジュ-ルのアドレス発生器にアドレスを指定するシ-ケンス発生回路と、を設け、前記デジタルモジュ-ルと前記アナログモジュ-ルとが同期するようにしたことを特徴としたLSIテスタに関する。
引用特許：
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