特許
J-GLOBAL ID：200903053603512741
不要電磁波測定システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
曾我 道照 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-295349
公開番号（公開出願番号）：特開平10-062467
出願日： 1996年11月07日
公開日（公表日）： 1998年03月06日
要約：
【要約】【課題】 被測定機器から不要放射される電磁波を近距離で測定して電磁界分布を求め任意の位置の放射電磁界強度を求める不要電磁波測定システムを得る。【解決手段】 被測定機器11から放射する電磁界を測定するプローブ1、プローブと被測定機器間の測定距離を複数変えて測定した放射電磁界の測定結果を平面波散乱行列法を用いて任意距離に距離変換し距離変換後の電磁界分布をその距離でフーリエ変換することで残留反射波成分を除去し直接波を取り出す第1の計算部2、第1計算部で求めた任意の位置における直接波成分から被測定機器本体の電磁界分布を計算する第2の計算部3、第2の計算部で得た被測定機器本体における電磁界分布に基づいて任意距離における電磁界を計算し、床面が接地されかつ直接波と床面以外の周囲からの電磁波がない場所に置いた場合の任意の距離における点、線もしくは面上の電磁界強度を計算する第3の計算部4からなる。
請求項（抜粋）：
被測定機器から放射する電磁界を測定するプローブと、このプローブと被測定機器との間の測定距離を複数変えて測定した被測定機器からの放射電磁界の測定結果を平面波散乱行列法を用いて任意距離に距離変換し、その距離変換後の電磁界分布をその距離でフーリエ変換することで残留反射波成分を除去し、被測定機器からの直接波を取り出す第1の計算部と、この第1計算部で求めた任意の位置における直接波成分から被測定機器本体の電磁界分布を計算する第2の計算部と、この第2の計算部で得られた被測定機器本体における電磁界分布に基づいて任意距離における電磁界を計算し、床面が接地されかつ直接波と床面以外の周囲からの電磁波がない場所に置いた場合の任意の距離における点、線もしくは面上の電磁界強度を計算する第3の計算部からなる不要電磁波測定システム。
FI (2件)：
G01R 29/08 D
, G01R 29/08 Z
