特許
J-GLOBAL ID：200903053621950144

断面形状の測定方法及びその装置

発明者：
島田 直明

島田 直明 について


出願人/特許権者：
株式会社ブリヂストン

株式会社ブリヂストン について


代理人 (1件)： 宮園 純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-164507
公開番号（公開出願番号）：特開2006-337270
出願日： 2005年06月03日
公開日（公表日）： 2006年12月14日
要約：
【課題】 被測定物の断面形状を、光切断法を用いて精度よく測定する方法とその装置を提供する。【解決手段】 搬送装置20により所定の速度で搬送される被測定物1にレーザ11から平面光Iを照射し、上記被測定物1の反射部1Rからの反射光Rを二次元カメラ12で撮影し、演算装置14にて、上記撮影された上記被測定物1の複数箇所の画像データを合成するとともに、この合成された画像と搬送速度検出手段13からの速度信号とに基づいて、当該被測定物1の断面形状を算出するようにした。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定物に平面光を照射してその照射箇所を撮影し、上記撮影された映像データから上記被測定物の断面形状を算出する方法であって、上記被測定物に斜め方向から平面光を照射しながら、上記被測定物を照射手段及び撮影手段に対して所定の速度で相対移動させて上記被測定物を撮影し、この撮影された画像データと上記相対速度とに基づいて、上記被測定物の断面形状を求めるようにしたことを特徴とする断面形状の測定方法。
IPC (1件)：
G01B 11/24
FI (2件)：
G01B11/24 A ,  G01B11/24 K
Fターム (24件)：
2F065AA52 ,  2F065BB05 ,  2F065BB11 ,  2F065BB15 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF42 ,  2F065FF64 ,  2F065FF67 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ09 ,  2F065PP15 ,  2F065QQ01 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 特開昭63-108207号公報
  • 特公平5-56801号公報
審査官引用 (3件)
  • 形状測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-120962   出願人：旭硝子株式会社
  • 特開昭57-137082
  • 特開平4-348211

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