特許

J-GLOBAL ID：200903053640481171

測距装置

発明者： 野中 修
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-041929
公開番号（公開出願番号）：特開2002-244021
出願日： 2001年02月19日
公開日（公表日）： 2002年08月28日
要約：

【要約】【課題】従来の測距装置は、主要被写体と像信号パターンと背景の像信号パターンが同じ様な振幅で混信する構図においては、正しく被写体距離を測距してピント合わせすることができなかった。【解決手段】本発明は、撮影画面上の複数の測距エリアを測距するためのセンサアレイ3、4を配置して、出力側に接続されたスイッチ13、14と、これらを切り換える選択部15を設けて、混信判定部18の判定により被写体の像信号が混信しており主要被写体を正確に測距できない場合、選択部15の切り換えにより、主要被写体の明瞭な像信号を得やすい部分を見いだして再測距を行い、主要被写体から明瞭な像信号を得る測距装置である。

請求項（抜粋）：

第1のセンサアレイ対を利用して撮影画面上の被写体像信号を検出して、被写体までの距離を測距する測距装置において、上記被写体像信号が主要被写体と背景にある雑被写体とが混信していると判定される時に、上記主要被写体を見いだす混信判定処理を行うことを特徴とする測距装置。

IPC (4件)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G02B 7/30 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G01C 3/06 Z ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 A ,  G03B 3/00 A

Fターム (22件)：

2F112AD06 ,  2F112BA06 ,  2F112CA02 ,  2F112CA12 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA29 ,  2F112FA45 ,  2H011AA01 ,  2H011BA05 ,  2H011BB02 ,  2H011BB04 ,  2H011CA28 ,  2H051BB07 ,  2H051CB20 ,  2H051CE07 ,  2H051DA03 ,  2H051DA07 ,  2H051DA16 ,  2H051DA19 ,  2H051DA31 ,  2H051DB01