特許
J-GLOBAL ID：200903053649893030
検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西教 圭一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-126585
公開番号（公開出願番号）：特開平7-333274
出願日： 1994年06月08日
公開日（公表日）： 1995年12月22日
要約：
【要約】【目的】 操作者の操作ミスなどによって生じる印字パターンの誤印字を防止することができる検査装置を提供する。【構成】 検査装置21は、検査手段22aと分類手段22bと第1の選択手段22cとを備える特性検査装置22、第2の選択手段23aを備えるレーザマーキング装置23および照合手段24を含んで構成される。検査手段22aは複数の検査項目について電子部品26の特性検査を行う。分類手段22bは検査結果に基づいて良品/不良品判定を行い、第1の選択手段22cによって選択された検査項目について電子部品26を分類する。レーザマーキング装置23は、第2の選択手段23aによって選択された検査項目に対応する対応関係に基づいて、分類結果に対応した印字パターンを電子部品26に印字する。照合手段24は、第1および第2の選択手段22c,23aによって選択された両検査項目の照合を行う。
請求項（抜粋）：
予め設定された複数の検査項目について被検査物に対する検査をそれぞれ行い、各検査項目毎に検査結果を導出する検査手段と、前記検査手段によって導出された検査結果に基づいて被検査物の良品か不良品かの判定を行い、良品と判断される場合には、予め設定された複数の分類条件のうちの1つの分類条件に基づいて被検査物を予め設定された複数のグループに分類し、分類結果を導出する分類手段と、前記分類手段による分類に用いられる前記1つの分類条件を、前記複数の分類条件のうちから選択する第1の選択手段と、前記複数のグループと予め設定された複数種類の印字パターンとの対応関係を、前記複数の分類条件毎に個別に予め記憶し、前記複数の分類条件のうちの1つの分類条件に対応する前記対応関係に基づいて、前記複数種類の印字パターンから前記分類結果が示すグループに対応する印字パターンを選択して前記被検査物に印字する印字手段と、前記印字手段による印字パターンの選択に用いられる前記1つの分類条件を、前記複数の分類条件のうちから選択する第2の選択手段と、前記第1の選択手段によって選択された分類条件と、前記第2の選択手段によって選択された分類条件との照合を行う照合手段とを含み、前記印字手段は、前記照合手段の照合結果に基づいて、前記第1の選択手段によって選択された分類条件と前記第2の選択手段によって選択された分類条件とが一致しないときには、印字動作を行わないことを特徴とする検査装置。
IPC (2件)：
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