特許
J-GLOBAL ID：200903053656892945
半導体素子のオフ動作特性試験方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-079749
公開番号（公開出願番号）：特開平9-269354
出願日： 1996年04月02日
公開日（公表日）： 1997年10月14日
要約：
【要約】【課題】電力用サイリスタ,トランジスタ,ダイオード等の被試験素子1のオフ動作特性の試験条件を自動設定しかつ試験の際の消費電力を節約する。【解決手段】キャパシタ13の充電容量と放電時定数が可調整に構成され放電電流を被試験素子1に順方向に流す順方向電流源10と,その電流供給点と被試験素子1の間に挿入されて順方向に導通する一方向素子20と,キャパシタ33の充電容量と放電時定数が可調整に構成され放電電圧を被試験素子1に逆方向に与える逆方向電圧源30と,被試験素子1に順方向電圧を与える順方向電圧源40を用い、プログラムコントローラ60により順方向電流源10と逆方向電圧源30の充電容量と放電時定数を被試験素子1の定格に合わせて自動的に設定した後、それらを順次動作させたとき被試験素子1が受ける電流iと電圧vの波形データを計算機70に与えてターンオフ時間tfや逆回復時間trを計算させ、かつ被試験素子1が可制御素子のとき順方向電圧源を動作させてその順方向耐圧を確かめる。
請求項（抜粋）：
キャパシタの充電容量とその放電の時定数が可調整に構成され放電電流を被試験素子に順方向に供給する順方向電流源と、順方向電流源の電流供給点と被試験素子の間に挿入され電流供給方向にのみ導通する一方向素子と、キャパシタの充電容量とその放電の時定数が可調整に構成され放電電圧を被試験素子に逆方向に供給する逆方向電圧源と、充電されたキャパシタの電圧を被試験素子に順方向に供給する順方向電圧源とを用い、順方向電流源と逆方向電圧源のキャパシタの充電容量と放電の時定数を調整手段によりあらかじめ被試験素子の定格に合わせて設定した上で順方向電流源と逆方向電圧源と順方向電圧源の内の少なくとも前二者を順次に放電させたときに被試験素子が受ける電流と電圧からそのオフ動作特性を測定するようにしたことを特徴とする半導体素子のオフ動作特性試験方法。
FI (3件)：
G01R 31/26 D
, G01R 31/26 A
, G01R 31/26 C
