特許
J-GLOBAL ID：200903053700283447
ジッタ/ワンダ解析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-233365
公開番号（公開出願番号）：特開平7-083980
出願日： 1993年09月20日
公開日（公表日）： 1995年03月31日
要約：
【要約】【目的】 低周波数化したジッタやワンダを高精度に、効率よく測定及び解析することができるジッタ/ワンダ解析装置を提供する。【構成】 測定信号生成回路11と、基準発振器12と、周波数変換回路13と、逓倍回路14と、ジッタ付加回路15と、切り替え回路16と、第1及び第2の連続周期測定回路17及び18と、第1及び第2のバッファメモリ19及び20と、第1及び第2の分周器21、22とから測定部10を構成する。連続周期測定回路17、18で被測定信号の周期を連続的に測定し、演算解析部でそれらの周期データの変動を高速フーリエ変換してジッタを解析し、また、2つの被測定信号の時間間隔測定値から相対的なジッタを解析する。一方、被測定信号の周波数を分周器21、22により適当に分周して低周波ジッタを解析し、また、ワンダは複数の観測時間におけるMTIEや長期周波数偏差を同時に算出して解析する。
請求項（抜粋）：
パルス状の被測定信号の一方のエッジが与えられ、該エッジの周期を連続的に測定する第1の連続周期測定回路と、パルス状の被測定信号の一方のエッジ又は装置内部で作られた基準位相の所定の周波数の試験信号の一方のエッジが与えられ、該エッジの周期を連続的に測定する第2の連続周期測定回路と、前記第1及び第2の連続周期測定回路から出力される測定周期データを記憶するための第1及び第2のメモリと、前記第1及び第2のメモリに記憶された測定周期データに基づいて、前記被測定信号の少なくとも周期、時間間隔を含む時間/周波数の諸量を算出する測定量演算手段と、算出された被測定信号の時間/周波数の諸量の解析を行う解析手段と、前記第1及び第2の連続周期測定回路に入力される被測定信号をそれぞれ選択的に分周する第1及び第2の分周手段とを具備することを特徴とするジッタ/ワンダ解析装置。
IPC (2件)：
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