特許
J-GLOBAL ID:200903053708386601

試験データ集計システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森本 直之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-295909
公開番号(公開出願番号):特開2001-118016
出願日: 1999年10月18日
公開日(公表日): 2001年04月27日
要約:
【要約】【課題】所定の所見データを同じものとして集計することにより、症状変化を正確にキャッチし、データの客観性を向上することのできる試験データ集計システムを提供する。【解決手段】第1の所見Aに対するカウントPと第2の所見Bに対するカウントQとが存在する場合に、上記第1の所見Aに対するカウントPを、第2の所見Bのカウントとみなして集計するみなし集計手段6を備えたことにより、複数の観察者間で、ある同じ所見を異なる表現でカウントしていたとしても、表現の異なる複数の所見が同じ所見として集計される。したがって、同じ所見が異なるデータとして扱われることが少なく、微少な傾向を確実にキャッチできて症状の変化を見落とすこともなくなってデータの客観性が大幅に向上する。また、再実験の必要性も大幅に減少し、試験に要するコストも大幅に削減することができる。
請求項(抜粋):
試験の結果得られた複数の事項に対する数量を集計する試験データ集計システムであって、第1の事項Aに対する数量Pと第2の事項Bに対する数量Qとが存在する場合に、上記第1の事項Aに対する数量Pを、第2の事項Bの数量とみなして集計するみなし集計手段を備えていることを特徴とする試験データ集計システム。
IPC (4件):
G06F 19/00 ,  G01N 33/15 ,  G01N 33/48 ,  G06F 17/30
FI (4件):
G01N 33/15 Z ,  G01N 33/48 Z ,  G06F 15/42 H ,  G06F 15/401 320 Z
Fターム (8件):
2G045AA29 ,  2G045CB17 ,  2G045JA04 ,  5B075ND20 ,  5B075PP02 ,  5B075PP03 ,  5B075PQ02 ,  5B075UU26

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