特許

J-GLOBAL ID：200903053711994086

検査ロット管理システム

発明者： 諏訪 光信
出願人/特許権者： 株式会社リコー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-117816
公開番号（公開出願番号）：特開平11-291144
出願日： 1998年04月13日
公開日（公表日）： 1999年10月26日
要約：

【要約】【課題】 複数の加工工程から構成される加工生産ラインにおいて、その検査精度を向上させる検査ロット管理システムを提供する。【解決手段】 複数の加工工程1〜4から構成される加工生産ラインにおいて、各加工工程における設備の稼働状況を監視する監視手段9〜12、各加工工程における設備の工程条件を設定する設定手段5〜8、各加工工程における設備の工程条件に対応したプロセス情報を取得するプロセス情報取得手段13〜16、加工生産ライン上のワークを検知する検知手段21〜24、検知したワークの生産状態を記憶する記憶手段29、31、検知したワークの生産状態により前記加工生産ラインで生産されたワークの検査ロットを仕分けする仕分手段25を備え、記憶手段29、31の記憶内容に従って仕分け手段25でワークを仕分ける。

請求項（抜粋）：

複数の加工工程から構成される加工生産ラインにおいて、前記各加工工程における設備の稼働状況を監視する監視手段、前記各加工工程における設備の工程条件を設定する設定手段、前記各加工工程における設備の工程条件に対応したプロセス情報を取得するプロセス情報取得手段、前記加工生産ライン上のワークを検知する検知手段、前記検知手段が検知したワークの生産状態を記憶する記憶手段、前記検知手段が検知したワークの生産状態により前記加工生産ラインで生産されたワークの検査ロットを仕分けする仕分手段、を備えたことを特徴とする検査ロット管理システム。

IPC (4件)：

B23Q 41/08 ,  G01N 1/00 101 ,  G05B 15/02 ,  G06F 17/60

FI (4件)：

B23Q 41/08 Z ,  G01N 1/00 101 A ,  G05B 15/02 Z ,  G06F 15/21 R