特許

J-GLOBAL ID：200903053779568018

超音波探傷検査方法

発明者： 名村 道弘
出願人/特許権者： 石川島播磨重工業株式会社
代理人 (1件)： 山田 恒光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-183139
公開番号（公開出願番号）：特開平6-003339
出願日： 1992年06月17日
公開日（公表日）： 1994年01月11日
要約：

【要約】【目的】 記録チャート紙と被検体の検査箇所の照合を容易且つ正確に行い得るようにする。【構成】 被検体5の検査箇所の近傍に超音波反射源14を設けておき、超音波探傷検査時に、超音波反射源14も超音波探傷して記録チャート紙にエコーやその反射源を表示する。

請求項（抜粋）：

所定位置に超音波反射源を設けた被検体を、該超音波反射源をも含めて超音波探傷し、その結果を記録チャート紙に記録することを特徴とする超音波探傷検査方法。