特許
J-GLOBAL ID:200903053823938316
ドットずれ検出方法、ドットずれ検出プログラムおよび基準直線取得方法、並びにドットずれ検出装置および液滴吐出装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
上柳 雅誉
, 藤綱 英吉
, 須澤 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-105757
公開番号(公開出願番号):特開2006-284406
出願日: 2005年04月01日
公開日(公表日): 2006年10月19日
要約:
【課題】 容易かつ迅速にドットずれを検出することができるドットずれ検出方法、ドットずれ検出プログラムおよび基準直線取得方法、並びにドットずれ検出装置および液滴吐出装置を提供する。【解決手段】 ドット列の電子画像を取得する画像取得ステップ(S1)と、各ドットの位置測定点を取得するドット測定点取得ステップ(S2)と、第1の基準直線を取得する第1の基準直線取得ステップ(S3)と、第1の基準直線と各ドットの位置測定点との距離データを取得する第1回目のずれ量取得ステップ(S4)と、各ドットの位置測定点のうち、距離データが規定した範囲を超える測定点を排除するデータ排除ステップ(S6)と、第2の基準直線を取得する第2の基準直線取得ステップ(S7)と、第2の基準直線と各ドットの距離データを取得する第2回目のずれ量取得ステップ(S8)とを有する。【選択図】 図6
請求項(抜粋):
吐出ヘッドのノズルから吐出された液滴が検査ワーク上に着弾して得られたドットの位置ずれを検出するドットずれ検出方法であって、
前記検査ワーク上に形成されたドット列の電子画像を取得する画像取得ステップと、
前記電子画像を画像処理することにより、前記ドット列の各ドットの位置測定点を取得するドット測定点取得ステップと、
前記各ドットの位置測定点に基づいて第1の直線近似法により、第1の基準直線を取得する第1の基準直線取得ステップと、
前記第1の基準直線と前記各ドットの位置測定点との距離データを取得する第1回目のずれ量取得ステップと、
前記各ドットの位置測定点のうち、前記距離データが規定した範囲を超える測定点を排除するデータ排除ステップと、
前記各ドットの位置測定点に基づいて第2の直線近似法により、第2の基準直線を取得する第2の基準直線取得ステップと、
前記第2の基準直線と前記各ドットの距離データを取得することにより、前記各ドットの位置ずれ量に関する情報を取得する第2回目のずれ量取得ステップと、を有することを特徴とするドットずれ検出方法。
IPC (7件):
G01B 11/00
, B05C 5/00
, B05C 11/00
, B05D 1/26
, B05D 3/00
, B41J 29/46
, B41J 2/01
FI (7件):
G01B11/00 H
, B05C5/00 101
, B05C11/00
, B05D1/26 Z
, B05D3/00 D
, B41J29/46 C
, B41J3/04 101Z
Fターム (39件):
2C056EA07
, 2C056EB27
, 2C056EB36
, 2C056KD06
, 2C061AQ05
, 2C061KK18
, 2C061KK26
, 2C061KK28
, 2F065AA03
, 2F065AA07
, 2F065AA14
, 2F065BB02
, 2F065BB28
, 2F065CC25
, 2F065DD06
, 2F065DD19
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065QQ03
, 2F065QQ17
, 2F065QQ28
, 2F065TT08
, 2F065UU05
, 4D075AC07
, 4D075AC93
, 4F041AA02
, 4F041AA05
, 4F041AB01
, 4F041BA10
, 4F041BA13
, 4F041BA22
, 4F041BA34
, 4F041BA38
, 4F042AA02
, 4F042AA06
, 4F042AB00
, 4F042BA08
, 4F042DH09
引用特許:
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