特許

J-GLOBAL ID：200903053896242425

粒子径分布測定装置

発明者： 池田 英幸 ,  菅澤 央昌 ,  駒井 佑美
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (2件)： 西村 竜平 ,  佐藤 明子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-356758
公開番号（公開出願番号）：特開2008-164539
出願日： 2006年12月29日
公開日（公表日）： 2008年07月17日
要約：

【課題】測定された粒子径分布が正しいか否かを、ユーザ側で確実に判断できる粒子径分布測定装置を提供する。【解決手段】サンプル粒子群に測定光Lが照射されて生じる回折及び/又は散乱光LSの拡がり角に応じた光強度分布データに基づいて前記粒子群の粒子径分布を算出する粒子径分布測定装置1において、仮定の粒子径分布を示すデータである仮定粒子径分布データを受け付ける仮定粒子径分布データ受付部52と、その仮定粒子径分布データの値に基づいて、仮定の光強度分布データを算出する光強度分布算出部54と、前記仮定光強度分布データと各光検出器4の実測値に基づく実測光強度分布データとを比較可能に出力し、又は前記各光強度分布データの一致度を評価するための評価データを出力する出力部55とを設けるようにした。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

サンプル粒子群を収容するセルと、そのセル内のサンプル粒子群に測定光を照射する光源と、前記セルの周囲に設けられ、測定光の照射によりサンプル粒子群で回折及び/又は散乱する二次光の拡がり角に応じた光強度を検出する複数の光検出器と、各光検出器の出力信号値から得られる光強度分布データに基づいて前記粒子群の粒子径分布を算出する情報処理機構と、を備えた粒子径分布測定装置において、 前記情報処理機構が、 仮定された粒子径分布を示すデータである仮定粒子径分布データを受け付ける仮定粒子径分布データ受付部と、 その仮定粒子径分布データの値に基づいて、仮定の光強度分布データを算出する光強度分布算出部と、 前記仮定光強度分布データと各光検出器の実測値に基づく実測光強度分布データとを比較可能に出力し、又は前記各光強度分布データの一致度を評価するための評価データを出力する出力部とを備えていることを特徴とする粒子径分布測定装置。

IPC (1件)：

G01N 15/02

FI (1件)：

G01N15/02 A

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 粒度分布測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-118158   出願人：株式会社島津製作所