特許
J-GLOBAL ID:200903053978448730
PCBの濃度測定における前処理方法およびこの前処理において使用する採取装置並びに精製装置
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-383093
公開番号(公開出願番号):特開2002-181673
出願日: 2000年12月18日
公開日(公表日): 2002年06月26日
要約:
【要約】【課題】 PCBの抽出,精製操作が簡単であり、PCBの分析を行うための前処理を簡単にする方法を提供することを目的としている。また、採取および精製の操作を連続して行うことが可能な採取装置並びに精製装置を提供することを目的としている。【解決手段】 排ガス等の被測定物から主としてPCBを特定採取する採取工程と、前記採取物からPCBを選択的に抽出する抽出工程とを前記被測定物の採取場所において行うことを特徴としている。
請求項(抜粋):
排ガス等の被測定物から主としてPCBを特定採取する採取工程と、前記採取物からPCBを選択的に抽出する抽出工程とを前記被測定物の採取場所において行うことを特徴とするPCBの濃度測定における前処理方法。
IPC (6件):
G01N 1/10
, G01N 27/62
, G01N 27/62 ZAB
, G01N 30/08
, G01N 30/48
, G01N 30/88
FI (8件):
G01N 1/10 C
, G01N 1/10 F
, G01N 27/62 C
, G01N 27/62 ZAB V
, G01N 30/08 Z
, G01N 30/48 H
, G01N 30/48 K
, G01N 30/88 C
Fターム (6件):
2G052AA02
, 2G052AD04
, 2G052AD46
, 2G052ED03
, 2G052GA24
, 2G052GA27
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