特許

J-GLOBAL ID：200903053988861334

蛍光X線分析に使用する試料の調製法

発明者： 井上 稔
出願人/特許権者： 理学電機工業株式会社
代理人 (1件)： 杉本 修司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-339435
公開番号（公開出願番号）：特開平7-270288
出願日： 1994年12月29日
公開日（公表日）： 1995年10月20日
要約：

【要約】【目的】 容易に均一な固体試料の調製ができ、安全で正確な測定が行えて、軽元素の分析に有利であり、また、He置換を行う必要がなく、真空条件下での測定が可能な油状試料の調製法を提供する。【構成】 油状試料を油固化剤で凝固させて調製する。

請求項（抜粋）：

蛍光X線分析に使用される油状試料を調製する方法であって、油状試料を油固化剤で凝固させて調製する試料の調製法。

IPC (3件)：

G01N 1/36 ,  G01N 1/28 ,  G01N 23/223

FI (2件)：

G01N 1/28 Z ,  G01N 1/28 K

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭60-186738
  
• 特公昭60-054092