特許
J-GLOBAL ID：200903054034081750
平面度測定用治具
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
牛木 護 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-129643
公開番号（公開出願番号）：特開平6-341804
出願日： 1993年05月31日
公開日（公表日）： 1994年12月13日
要約：
【要約】【目的】 平面度を簡易的に測る。【構成】 基台1上に、円盤状の回転台6を水平に回転自在に支持する。この回転台6の上面側に3つのジャッキ台17を設ける。これらジャッキ台17は、それぞれ回転台6の 120°ずつ離れた半径に沿って移動できる。各ジャッキ台17には、ジャッキ21を昇降可能に設けてある。測定時、3つのジャッキ21上にワークWを載せる。このとき、ワークWの中心を回転台6の回転軸に一致させる。ワークWの上面に測定装置の測定子26を接触させ、まず3点で0点調節する。ついで、相対的にワークWの上面に沿って測定子26を移動させ、ワークWの上面の高さを測る。このとき、測定子26は水平に動かさず、回転台6を回す。【効果】 ワークWの中心を回転台6の回転軸に一致させるのは容易である。
請求項（抜粋）：
基台と、この基台上に水平に回転自在に支持された回転台と、この回転台上に放射状に設けられ回転台の径方向へ移動可能な3つのジャッキ台と、これらジャッキ台上にそれぞれ昇降可能に設けられたジャッキとを備えたことを特徴とする平面度測定用治具。
IPC (3件)：
G01B 5/28 101
, G01B 5/20
, G01B 21/30 101
