特許
J-GLOBAL ID：200903054052916966
物体形状計測方法及びその装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
本庄 武男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-265201
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071325
出願日： 2000年09月01日
公開日（公表日）： 2002年03月08日
要約：
【要約】【課題】 光切断法を用いて計測対象物の形状を計測する従来の物体形状計測装置では,光切断画像を撮像する撮像素子の配列方向に沿って荷重平均操作を行ってスリット光像中心位置を求めるため,円筒のように計測対象物が曲面を有する場合には,本来のスリット光の幅方向の中心位置から前記スリット光像中心位置がずれ,そのために計測精度が低下する問題があった。【解決手段】 本発明は,局所的なスリット光の幅方向を求め,求めたスリット光の幅方向に沿って荷重平均操作を行うことによって中心位置が定められるため,計測対象物の形状によらず,高精度の形状計測を行うことが可能となる。
請求項（抜粋）：
計測対象物にスリット光を投光し,前記計測対象物で反射された前記スリット光の反射光を前記スリット光平面に対して撮像方向が傾けられた撮像装置の撮像面上で撮像したスリット光像を取得し,前記スリット光像の輝度の広がりが局所的に最小となる方向に前記スリット光の幅方向を定め,前記スリット光の幅方向に沿って前記スリット光像の輝度に関し荷重平均操作を行って,前記スリット光の幅方向の中心位置を定め,前記スリット光の幅方向の中心位置に基づいて前記計測対象物の形状を計測する物体形状計測方法。
Fターム (15件)：
2F065AA17
, 2F065AA53
, 2F065DD04
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF09
, 2F065HH05
, 2F065HH11
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065QQ24
, 2F065QQ29
, 2F065QQ36
, 2F065QQ42
