特許
J-GLOBAL ID:200903054053174335
パターン投影光学系
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
青山 葆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-143347
公開番号(公開出願番号):特開2000-330226
出願日: 1999年05月24日
公開日(公表日): 2000年11月30日
要約:
【要約】【課題】 パターン光のコントラストおよび光量と、装置の携帯性とを最適化したパターン投影光学系を提供する。【解決手段】 パターン投影光学系は、光を透過するパターンをもつマスクと、マスクを照明する光源と、光源と上記マスクとの間に配置されたレンズとからなる。光源の大きさをA、レンズの倍率をB、光源とマスクとの間の距離をTとしたときに、0.004 < A×B/T < 0.035なる条件を満たしている。
請求項(抜粋):
光を透過するパターンをもつマスクと、該マスクを照明する光源と、該光源と上記マスクとの間に配置されたレンズとからなり、上記光源の大きさをA、上記レンズの倍率をB、上記光源と上記マスクとの間の距離をTとしたときに、0.004 < A×B/T < 0.035なる条件を満たしていることを特徴とするパターン投影光学系。
Fターム (1件):
前のページに戻る