特許
J-GLOBAL ID：200903054088794395
LSI試験装置およびLSI試験プログラム自動作成装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石川 泰男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-230123
公開番号（公開出願番号）：特開平5-072276
出願日： 1991年09月10日
公開日（公表日）： 1993年03月23日
要約：
【要約】【目的】 複数品種のLSIの共通仕様部分の試験内容の変更、追加を容易かつ迅速に行うLSI試験装置及びLSI試験用プログラム自動作成装置を提供する。【構成】 第1の発明は、前記共通仕様部分についての共通試験手順を記憶する共通試験手順記憶手段4と、前記LSIの各品種に対応する個別仕様部分についての個別試験手順を記憶する個別試験手順記憶手段4と、前記共通試験手順を変更、追加する共通試験手順変更追加手段2、3と、前記変更、追加された共通試験手順並びに被試験LSI15に対応する個別試験手順を読出し、被試験LSI15の試験の制御を行う試験制御手段3と、を備える。また、第2の発明は、試験制御手段3に代え、前記変更、追加された共通試験手順並びに被試験LSI15に対応する個別試験手順を読出し、結合して試験プログラムを自動作成するプログラム作成制御手段を備える。
請求項（抜粋）：
各品種ごとに異なる試験条件でLSIの試験を行うLSI試験装置において、同一系列に属する複数品種のLSIの共通仕様部分についての共通試験手順を記憶する共通試験手順記憶手段(4)と、前記複数品種のLSIの個別仕様部分についての各品種に対応する個別試験手順を記憶する個別試験手順記憶手段(4)と、前記共通試験手順記憶手段に記憶されている共通試験手順を変更しまたは追加する共通試験手順変更追加手段(2、3)と、前記変更されたまたは追加された共通試験手順並びに被試験LSI(15)に対応する個別試験手順を読出し、前記被試験LSIの試験の制御を行う試験制御手段(3)と、を備えたことを特徴とするLSI試験装置。
IPC (2件)：
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