特許
J-GLOBAL ID：200903054106086077
SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-292300
公開番号（公開出願番号）：特開平8-129001
出願日： 1994年10月31日
公開日（公表日）： 1996年05月21日
要約：
【要約】【目的】 SIM分析の前に、目的化合物(モニタイオン)のグルーピングを自動的に行なう。【構成】 最初にスキャンモードで試料の質量分析を行ない、採取されたマススペクトルから全イオンクロマトグラム(TIC)を作成する。次に、TICの各ピークを所定の基準で検出し、ピーク間隔が所定値以上である箇所を境界としてTICを複数の区間に分割する(グルーピング)。そして、分割された各区間毎にモニタイオンを切り換えてSIM分析を行なう。
請求項（抜粋）：
クロマトグラフ装置により成分分離された試料に対して、所定のモニタイオンについて質量分析装置により分析を行なう、SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置において、a)クロマトグラフ装置を通過した試料に対して質量分析装置において短時間毎に繰り返し質量走査することにより、短時間毎のマススペクトルを採取するマススペクトル採取手段と、b)採取されたマススペクトルから全イオンクロマトグラムを作成し、全イオンクロマトグラムの各ピークの間隔が所定値以上である箇所を境界として全イオンクロマトグラムを複数の区間に分割する分割手段と、c)分割された各区間毎にモニタイオンを切り換えてSIM分析を行なうSIM制御手段と、を備えることを特徴とするSIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (3件)：
G01N 30/72
, G01N 27/62
, H01J 49/26
