特許
J-GLOBAL ID：200903054122322708
アニロックスロールのセル容積測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
竹本 松司 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-320879
公開番号（公開出願番号）：特開平7-148914
出願日： 1993年11月29日
公開日（公表日）： 1995年06月13日
要約：
【要約】【目的】 1回の測定でセル容積を算出するための測定データを得ることができ、測定に要する時間と労力の短縮を可能とし、表面粗さ測定機以外に格別な装置を必要としないアニロックスロールのセル容積測定方法を提供すること。【構成】 一定方向に同一形状の凹部5が配列されたアニロックスロール1において、アニロックスロール1の凹部5の配列方向と数度交差する方向に複数の凹部5a乃至5jを横切って触針式表面粗さ測定機4を一定区間走査させて各凹部5a乃至5jの断面形状を計測し、断面形状を積分する。
請求項（抜粋）：
一定方向に同一形状の凹部が配列されたアニロックスロールにおいて、前記アニロックスロールの凹部の配列方向と数度交差する方向に複数の凹部を横切って触針式表面粗さ測定機を一定区間走査させて前記各凹部の断面形状を計測し、前記断面形状を積分することを特徴とするアニロックスロールのセル容積測定方法。
IPC (3件)：
B41F 33/14
, B41F 5/24
, B41F 31/26
