特許
J-GLOBAL ID:200903054123728481

光学式スキャナの校正方法と装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 稔 (外6名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-509582
公開番号(公開出願番号):特表平10-507828
出願日: 1995年08月31日
公開日(公表日): 1998年07月28日
要約:
【要約】校正蛍光源として均質でソリッドステートな基準からの蛍光を使用する蛍光分光計の校正方法と装置において、ソリッドステートな基準は、光学式スキャナに組み込まれ、また校正は光学式スキャナを使用する時通常工程として自動的に実行される。ゴールド基準は、蛍光単位を確立し、蛍光分光計は校正ルビー等の校正基準を参照として校正される。それら校正基準は、ゴールド基準に不変の基準を提供するように蛍光分光計に組み込まれており、多チャンネル蛍光分光計の二つ以上の同時校正を達成する。作動されると多チャンネル蛍光分光計を自動校正して各チャンネルでの許容可能な感度レベルを達成し且つチャンネル間の感度のどんな相対シフトに対しても調節する。
請求項(抜粋):
蛍光分光計を校正する方法において、 均質なソリッドステートな校正基準を励起することで蛍光光線を発生し; 上記蛍光光線を参照して上記蛍光分光計の校正を行う各工程から構成されていることを特徴とする蛍光分光計を校正する方法。
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 分析値時系列補正方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-299140   出願人:新日本製鐵株式会社
  • 特開昭64-086041

前のページに戻る