特許

J-GLOBAL ID：200903054153401452

電子部品の余寿命推定方法及び装置

発明者： 南 裕 二 ,  安 達 健 二
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-126807
公開番号（公開出願番号）：特開平8-320296
出願日： 1995年05月25日
公開日（公表日）： 1996年12月03日
要約：

【要約】【目的】 電子部品の劣化状態及び余寿命の推定を、少数のモデル画像を用いた画像識別のみで行なえるようにする。【構成】 モデル画像データベース12には、加速度試験により収集したモデル電子部品についての有効寿命データc2及びモデル画像データc1が格納されている。劣化特徴抽出手段11は、実際に使用された電子部品の画像データaを電子顕微鏡Mから入力すると、これを画像処理して特徴変数データbを出力する。劣化状態推定手段13は、この特徴変数データbと、データベース12が格納している各モデル画像c1との類似度を求め、実質使用時間データd2を出力する。余寿命演算手段14は、実質使用時間d2及び有効寿命データc2から余寿命eを演算する。

請求項（抜粋）：

モデル電子部品についての有効寿命データと、このモデル電子部品が基準使用条件で使用された場合における所定使用時間経過毎の劣化状態を示す複数のモデル画像データとを予めデータベースに格納しておき、任意の使用条件で実際に使用された電子部品を撮像して画像データを得、この画像データから劣化特徴を表わす特徴変数データを抽出し、前記特徴変数データと前記複数のモデル画像データとの比較に基いて、前記実際に使用された電子部品が最大に類似する劣化状態を求め、この劣化状態に対応する使用時間を実質使用時間と推定し、前記推定された実質使用時間と、前記データベースに格納されたモデル電子部品についての有効寿命データとから、前記実際に使用された電子部品の余寿命を演算すること、を特徴とする電子部品の余寿命推定方法。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G06F 15/18 560 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01N 21/88 J ,  G06F 15/18 560 C ,  G06F 15/62 400

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開昭62-195544
  
• 特開昭62-134568
  
• 画像記録装置の画質診断システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-351777   出願人：富士ゼロックス株式会社
• 特開平4-253284