特許
J-GLOBAL ID：200903054182364000
イオンマイグレーション測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
廣澤 勲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-185940
公開番号（公開出願番号）：特開平11-014692
出願日： 1997年06月25日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：
【要約】【課題】小型で、簡単な構成であり、確実にマイグレーションの検査が可能なイオンマイグレーション測定装置を提供する。【解決手段】 イオンマイグレーションの発生を検査する測定装置であって、測定対象である電極13,14が形成されたサンプル12に直列に保護抵抗18を接続する。保護抵抗18に電圧測定装置20を接続し、サンプル12、保護抵抗18、及び電圧測定装置20は複数の組が並列に設けられる。
請求項（抜粋）：
イオンマイグレーションの発生を検査する測定装置であって、測定対象である電極が形成されたサンプルに直列に保護抵抗を接続し、この保護抵抗に電圧測定装置を接続してなるイオンマイグレーション測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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