特許

J-GLOBAL ID：200903054222044950

蛍光X線分析方法

発明者： 駒谷 慎太郎
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-197615
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043329
出願日： 1994年07月30日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：

【要約】【目的】 測定時間の短縮と操作性の向上を図ることができる蛍光X線分析方法を提供すること。【構成】 試料の測定条件の設定を行った後測定を開始し、試料に含まれている元素の濃度とその精度の計算を行ってこれら計算値が予め定めた値となったときに測定を終了して、そのときの濃度と精度あるいは濃度の最大値および最小値を表示および/または出力することからなる。

請求項（抜粋）：

試料の測定条件の設定を行った後測定を開始し、試料に含まれている元素の濃度とその精度の計算を行ってこれら計算値が予め定めた値となったときに測定を終了して、そのときの濃度と精度あるいは濃度の最大値および最小値を表示および/または出力することからなる蛍光X線分析方法。