特許
J-GLOBAL ID：200903054222385774
チップ型電子部品の検査選別機
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-119396
公開番号（公開出願番号）：特開平7-325124
出願日： 1994年05月31日
公開日（公表日）： 1995年12月12日
要約：
【要約】【目的】 回転円板型の部品保持/搬送機構を有するチップ型電子部品の検査選別機において、回転円板への部品の挿入不良を低減して稼働率を高め、かつ特性の検査が安定して行なえるようにする。【構成】 チップ型電子部品17を収容するための複数の部品保持貫通孔14を同心円状に設けた回転円板12と、回転円板12の裏面を覆うように間隙をあけて配置される固定盤13とからなるチップ型電子部品の検査選別機の部品保持/搬送機構において、部品挿入部における回転円板12と固定盤13との間隙Dを検査部における間隙Fよりも大きく設定する。
請求項（抜粋）：
両端部に電極を有するチップ型電子部品を収容するための複数の部品保持貫通孔を同心円状に設けた前記チップ型電子部品の両端間距離よりも小さい厚みの回転円板と、該回転円板の裏面を覆うように間隙をあけて配置され、前記部品保持貫通孔の少なくとも1つに対向する位置にチップ型電子部品の電気的特性を測定検査する固定電極が埋設された固定盤と、前記回転円板の回転によって搬送されるチップ型電子部品の両端部の電極に対して前記固定電極と共に当接する回転円板の表面側に配置された可動電極と、前記回転円板の表面側から部品保持貫通孔にチップ型電子部品を挿入する部品挿入手段と、検査結果に応じてチップ型電子部品を選別もしくは排出する選別手段とを具備したチップ型電子部品の検査選別機であって、チップ型電子部品を挿入する領域における回転円板と固定盤との間隙が他の領域よりも広くしてあることを特徴とするチップ型電子部品の検査選別機。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, G01R 27/00
, G01R 31/00
