特許
J-GLOBAL ID：200903054236997381
線形測定装置及びこの装置を調整する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
旦 武尚 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-035668
公開番号（公開出願番号）：特開平8-254420
出願日： 1996年01月30日
公開日（公表日）： 1996年10月01日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 トランスデューサとスケールとの平行及び/又はその間の距離を調整する。【解決手段】 支持構造体1に沿ってスライド5が滑ることのできるスケール2から成り、該スライドに結合された検出手段3、4は、該スケールと共同して、該支持構造体に付随する座標系における該スライドに付随する点の、少なくとも一つの座標の判定を可能にする。該検出手段は取り付け手段7、8、9により3点で該スライドに固定されており、この取り付け手段は、各固定点に、柱にネジとバネとを有し、固定点の各々において、ネジを操作することにより、検出手段3、4とスライド5との間の間隔を変更することができバネでその間隔を、該ネジの開口部との係合が許す限りにおいてなるべく大きく保つ。検出手段は、容量型又は電気光学型のトランスデューサ4とトランスデューサ支持体3とから成る。該スライドはローラ52、54により滑るようになっている。
請求項（抜粋）：
支持構造体(1)に沿ってスライド(5)が滑ることができるようになっている支持構造体1に固定されたスケール(2)と、該スケールに対向して配置されたトランスデューサ(4)からなっていて、該スケールと共同して、該支持構造体に付随する座標系における該スライドに付随する点の、少なくとも一つの座標を判定することを可能にする検出手段とから成る線形測定装置において、該検出手段は取り付け手段(7、8、9)によって少なくとも3点で該スライドに固定されており、前記取り付け手段は、前記3点のうちの少なくとも一つにおいて、少なくとも部分的にネジ山を有する開口部(73)に係合したネジ又はそれと同等のネジ山付き部材(72)と、少なくとも一つのバネ(71)とから成っており、前記固定点の各々において該ネジを操作することにより該検出手段と該スライド(5)との間の間隔を変更することができるようになっており、該バネは、該トランスデューサと該スケールとの間の平行及び/又は距離を調整できるように、その間隔を、該ネジ(72)の前記開口部との係合が許す最大限の大きさに保つようになっていることを特徴とする線形測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 21/02 S
, G01D 5/24 C
