特許
J-GLOBAL ID：200903054247813991
半導体試験装置の波形整形回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-008100
公開番号（公開出願番号）：特開平5-196696
出願日： 1992年01月21日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：
【要約】【目的】 波形パターンの変更を高速に実施する波形整形回路を提供する。【構成】 被測定半導体装置に印加する波形パターンを波形データ、波形モードおよびタイミング・クロックを用いて発生させる波形整形回路において、データ保持回路30に加えられる動作クロックを各タイミング・クロック毎のOPEN認識信号A、B、Cにより禁止する禁止回路31を具備して任意のサイクルで任意のタイミング・クロック禁止をして波形パターンの変更を高速に実施する波形整形回路を構成した。
請求項（抜粋）：
波形パターンを制御するための波形データを出力すると共にタイミング発生器内に予め設定されたOPEN認識信号のテーブルをアクセスするためのTS信号を発生するパターン発生器を具備し、TS信号によりアクセスされたOPEN認識信号を出力すると共に各OPEN認識信号により各タイミング・クロックを禁止するタイミング発生器を具備し、波形データをnサイクル間保持するデータ保持回路をタイミング・クロック毎に具備し、データ保持回路に加えられる動作クロックを各タイミング・クロック毎のOPEN認識信号により禁止する禁止回路を具備し、動作クロックのタイミングの波形データを各タイミング・クロックの位相に変更する位相変更回路を具備し、波形データと波形モード・レジスタ出力とに従い各タイミング・クロックのSET、RESETに対してタイミング・クロックを通過させるか否かを制御する制御回路を具備し、制御されたSET、RESETクロックをSET、RESET毎にOR回路を介して供給して波形パターンを変更するS-Rフリップ・フロップを具備することを特徴とする半導体試験装置の波形整形回路。
IPC (2件)：
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