特許
J-GLOBAL ID：200903054283050309
顕微分光測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-168019
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356588
出願日： 1999年06月15日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
要約：
【要約】【課題】 コストを抑えるとともに、遮蔽手段を手動で操作することなく、また、画像を合成することなく、効率良く測定することができる顕微分光測定装置を提供する。【解決手段】 試料台5に載置された試料Sに光源1からの光を照射し、前記試料Sからの反射あるいは透過光を分光測定する顕微分光測定装置Dであって、前記試料Sを撮像する撮像装置12と、前記試料Sと撮像装置12との間に位置し、前記試料Sの測定範囲を限定するための遮蔽手段8、9と、この遮蔽手段8、9を制御するための制御装置11と、前記撮像装置12からの出力によって前記試料Sを画像15表示する画像処理装置14とを備えており、前記画像15上で設定した試料Sの測定範囲16が、信号として遮蔽手段8、9に伝達されることにより、試料Sの測定時に遮蔽手段8、9が操作され、自動的に測定範囲16が設定されるように構成した。
請求項（抜粋）：
試料台に載置された試料に光源からの光を照射し、前記試料からの反射あるいは透過光を分光測定する顕微分光測定装置であって、前記試料を撮像する撮像装置と、前記試料と撮像装置との間に位置し、前記試料の測定範囲を限定するための遮蔽手段と、この遮蔽手段を制御するための制御装置と、前記撮像装置からの出力によって前記試料を画像表示する画像処理装置とを備えており、前記画像上で設定した試料の測定範囲が、信号として遮蔽手段に伝達されることにより、試料の測定時に遮蔽手段が操作され、自動的に測定範囲が設定されるように構成したことを特徴とする顕微分光測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/27 E
, G02B 21/00
2G059AA01
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059FF03
, 2G059KK04
, 2G059LL04
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2H052AC04
, 2H052AC05
, 2H052AD35
, 2H052AF07
, 2H052AF13
, 2H052AF14
, 2H052AF25
