特許
J-GLOBAL ID:200903054340055070

毛穴目立ち評価方法及び評価システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 田治米 登 ,  田治米 惠子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-136541
公開番号(公開出願番号):特開2004-337317
出願日: 2003年05月14日
公開日(公表日): 2004年12月02日
要約:
【課題】毛穴目立ちを再現性よく評価することのできる新たな手法を提供する。【解決手段】毛穴周囲の表皮構造における表皮-真皮間の界面形状に関する計測データを毛穴目立ちの評価パラメータとして毛穴目立ちを評価する。この評価パラメータとしては、共焦点レーザー顕微鏡を用いて、毛穴とその周囲の領域について、測定深度の異なる複数の画像を取得し、該画像において、測定深度が深くなるに伴って毛穴周囲の表皮領域中に真皮からなる島状領域が現れ、さらに測定深度が深くなることによって島状領域が大きくなり該島状領域を含む表皮領域の外側が真皮領域となっている画像を見出し、その画像において、真皮領域で囲まれた面積(真皮乳頭形成領域の面積S)を用いることができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
毛穴周囲の表皮構造における表皮-真皮間の界面形状に関する計測データを毛穴目立ちの評価パラメータとする毛穴目立ち評価方法。
IPC (2件):
A61B5/107 ,  A61B5/00
FI (2件):
A61B5/10 300Q ,  A61B5/00 M
Fターム (3件):
4C038VA04 ,  4C038VB22 ,  4C038VC05

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