特許
J-GLOBAL ID：200903054342525596

表面検査装置

発明者：
梅村 純

梅村 純 について


出願人/特許権者：
新日本製鐵株式会社

新日本製鐵株式会社 について


代理人 (4件)： 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  伊坪 公一 ,  西山 雅也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-044670
公開番号（公開出願番号）：特開2005-233826
出願日： 2004年02月20日
公開日（公表日）： 2005年09月02日
要約：
【課題】 物体表面上の有色疵や変色を確実に検出するとともに、疵判定ロジックの調整・再作成を容易にする。【解決手段】 撮像部100は、検査対象の表面をカラー撮影してRGB信号を得る。信号変換部200は、RGB信号を均等色空間の信号に変換する。疵検出部300は、得られた検査画像の各画素について、均等色空間の色域(色相又は彩度)を分割した分割領域の成分を含むか否かで、分割領域の色相又は彩度に対応した2値化画像を得て、これに基づいて表面の有色疵を検出する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
検査対象の表面を撮像してRGB信号を得る撮像部と、 前記RGB信号を均等色空間の信号に変換する信号変換部と、 前記信号変換部により変換された信号のうち色に関する信号により構成される画像に基づいて、検査対象の表面の疵を検出する疵検出部と、 を備えた表面検査装置。
IPC (6件)：
G01N21/892 ,  B21C51/00 ,  G06T1/00 ,  G06T7/00 ,  H04N1/46 ,  H04N1/60
FI (7件)：
G01N21/892 B ,  B21C51/00 P ,  G06T1/00 300 ,  G06T1/00 510 ,  G06T7/00 100A ,  H04N1/46 Z ,  H04N1/40 D
Fターム (47件)：
2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051AB20 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA17 ,  2G051EA23 ,  2G051EC02 ,  2G051ED21 ,  5B057AA04 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CE16 ,  5B057DA02 ,  5C077LL20 ,  5C077MP08 ,  5C077PP32 ,  5C077PP35 ,  5C077PP36 ,  5C077PP37 ,  5C077PP43 ,  5C077TT10 ,  5C079HB01 ,  5C079HB05 ,  5C079HB06 ,  5C079HB08 ,  5C079HB11 ,  5C079JA23 ,  5C079LA01 ,  5C079LA19 ,  5C079LA34 ,  5C079NA27 ,  5C079NA29 ,  5L096AA02 ,  5L096BA03 ,  5L096CA14 ,  5L096CA16 ,  5L096FA15 ,  5L096FA17 ,  5L096GA34 ,  5L096GA40 ,  5L096GA41 ,  5L096JA11
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 特許第2698696号公報
  • 特許第2698697号公報
審査官引用 (6件)
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