特許
J-GLOBAL ID：200903054344684497
粒子分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-220001
公開番号（公開出願番号）：特開平7-134093
出願日： 1994年09月14日
公開日（公表日）： 1995年05月23日
要約：
【要約】【目的】 粒子撮像用としてレーザ光源を用いる場合に、レーザー光のコヒーレンスを低下させて粒子に照射することにより、干渉縞や回折のない高画質の粒子画像を得る。【構成】 試料液中に存在する被検粒子を分離状態で流動させる光透過性のフローセルと、フローセル内を流動する被検粒子にレーザー光を照射するパルスレーザー照射装置と、レーザー光のコヒーレンスを低下させる光位相変調素子と、被検粒子からの光を受け、被検粒子の粒子像を撮像するCCDカメラと、撮像された被検粒子像の画像処理を行う画像信号処理ユニットから構成する。
請求項（抜粋）：
試料液中に存在する被検粒子を分離状態で流動させる光透過性のフローセルを有するフロー手段と、フローセル内を流動する被検粒子にレーザー光を照射するレーザー光照射手段と、レーザー光のコヒーレンスを低下させる低コヒーレント化手段と、被検粒子からの光を受け、被検粒子の粒子像を撮像する撮像手段と、撮像された被検粒子像の画像処理を行う画像処理手段を備えてなる粒子分析装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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