特許
J-GLOBAL ID：200903054347896118
円筒形状の測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-294757
公開番号（公開出願番号）：特開平6-147879
出願日： 1992年11月04日
公開日（公表日）： 1994年05月27日
要約：
【要約】【目的】 大型で大重量の測定対象物にも適用することができ、操作性及び測定精度の向上を図った円筒形状の測定方法を提供する。【構成】 ほぼ円筒形状をなす測定対象物11の軸線方向に対してほぼ平行に往復運動可能に設けられた取付台23に測定対象物11の外周に臨んでその表面凹凸を測定する3個の変位検出器31,32,33を配置し、取付台23を測定対象物11の軸線方向に移動させてその所定距離移動した位置ごとに測定対象物11の周方向全周にわたっての変化を測定し、この測定値から演算によってその測定位置での測定対象物11の真円度形状g(θ,X)、平均半径R(X)、軸心ずれ量(e,φ)を求め、複数の測定位置での真円度形状g(θ,X)、平均半径R(X)、軸心ずれ量(e,φ)を3次元的に評価して測定対象物11の円筒形状を求める。
請求項（抜粋）：
ほぼ円筒形状をなす測定対象物の軸線方向に対してほぼ平行に往復運動可能に設けられた取付台に前記測定対象物の外周に臨んでその表面凹凸を測定する3個の変位検出器を前記測定対象物の軸直角断面上で且つその検出感度方向が互いに所定の角度をなして前記測定対象物の中心軸近傍で交わるように配置し、前記取付台を前記測定対象物の軸線方向に移動させてその所定距離移動した位置ごとに前記測定対象物の周方向全周にわたっての変化を測定し、この測定値から演算によってその測定位置での測定対象物の真円度形状及び平均半径、軸心ずれ量を求め、前記測定対象物の軸線方向の複数の測定位置での前記真円度形状及び平均半径、軸心ずれ量から前記測定対象物の円筒形状を求めることを特徴とする円筒形状の測定方法。
引用特許：
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