特許
J-GLOBAL ID：200903054373366194
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-318565
公開番号（公開出願番号）：特開平10-148520
出願日： 1996年11月15日
公開日（公表日）： 1998年06月02日
要約：
【要約】【課題】 測距情報の算出に用いられる演算増幅器の出力の飽和を防止しつつ、測距精度を向上させる。【解決手段】 外光成分を含んだ出力レベルが輝度判別用の基準電圧よりも低いことが判別され、かつ、演算増幅手段の出力レベルが基準電圧よりも低く、最大のゲインコントロールを行うことが必要であることが判別されている場合に、電流-電圧変換手段内の演算増幅器の帰還抵抗の抵抗値を切り換える切換手段(#102→#104→#105→#106)を設けている。
請求項（抜粋）：
被写体へ向けて光を投射する投光手段と、該投光手段の投射光の前記被写体での反射光を受光する受光手段と、該受光手段の出力が入力される演算増幅器及び該演算増幅器の負帰還路に配置される帰還抵抗により構成される電流-電圧変換手段と、該電流-電圧変換手段の出力より外光成分を除去された信号を増幅する演算増幅手段と、該演算増幅手段の出力レベルと基準電圧とを比較する第1の比較手段と、該第1の比較手段の出力に基づいて前記演算増幅手段のゲインコントロールを行うと共に、前記演算増幅手段の出力に基づいて測距情報を算出する演算手段とを備えた測距装置において、前記電流-電圧変換手段の外光成分を含んだ出力レベルと輝度判別用の基準電圧とを比較する第2の比較手段と、前記第1及び第2の比較手段の出力に応じて、前記帰還抵抗の抵抗値を切り換える切換手段とを設けたことを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G01C 3/06 A
, G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
