特許
J-GLOBAL ID:200903054433599347
クリープ余寿命評価方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
角田 嘉宏 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-300858
公開番号(公開出願番号):特開2003-106947
出願日: 2001年09月28日
公開日(公表日): 2003年04月09日
要約:
【要約】【課題】 被評価材のクリープ余寿命を、短時間に、高精度且つ低コストで、被評価材の材質に関係なく評価することが可能な方法を提供すること。【解決手段】 被評価材1に固着した犠牲型センサ2を非破壊的評価法で評価することにより犠牲型センサ2のクリープ損傷度を求め、この犠牲型センサ2のクリープ損傷度より被評価材1のクリープ損傷度を求め、この被評価材1のクリープ損傷度より被評価材1のクリープ余寿命を評価する。
請求項(抜粋):
被評価材に固着した犠牲型センサを非破壊的評価法で評価することにより犠牲型センサのクリープ損傷度を求め、この犠牲型センサのクリープ損傷度より被評価材のクリープ損傷度を得、この被評価材のクリープ損傷度より被評価材のクリープ余寿命を評価する方法。
IPC (3件):
G01M 19/00
, F01D 25/00
, G01N 17/00
FI (4件):
G01M 19/00 Z
, F01D 25/00 L
, F01D 25/00 W
, G01N 17/00
Fターム (19件):
2G024AD05
, 2G024AD33
, 2G024BA12
, 2G024CA22
, 2G024CA30
, 2G024DA12
, 2G024DA15
, 2G024DA16
, 2G024EA11
, 2G024FA02
, 2G024FA17
, 2G050AA01
, 2G050BA10
, 2G050BA12
, 2G050DA02
, 2G050EA01
, 2G050EA04
, 2G050EB01
, 2G050EC05
引用特許: