特許
J-GLOBAL ID：200903054454306650
磁性材料のパラメータを測定するための可変磁気抵抗磁力計
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
浅村 皓 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-148233
公開番号（公開出願番号）：特開平6-194435
出願日： 1993年05月14日
公開日（公表日）： 1994年07月15日
要約：
【要約】【目的】 磁性試料を特殊な形で準備する必要がなく、また高感度で非破壊的に試料の磁気特性をテストできる優れた方法および装置を開示する。【構成】 平衡した磁心を通りまた前記磁心に近接して置いた磁気試料を通る磁束線を発生することにより、磁性材料の磁気特性を測定する方法と装置を開示する。前記磁心内の磁束を変調し、測定して、復調して、テスト試料の磁気特性に対応する電気信号を生成することにより高い感度を得る。
請求項（抜粋）：
試料の磁気特性を測定する装置であって、共通の磁束ゲート部を共有する、平衡した対向する磁気通路を備える磁心と、前記平衡した磁気通路を通りまた試料を前記磁心に近接して置いたときにこの試料を通る磁束線を発生する駆動手段と、所定の周波数で前記磁束ゲート部の磁気抵抗を変調して前記磁束ゲート部内の磁束を変調する変調手段と、前記磁束ゲート部内の前記変調磁束を測定して変調出力信号を発生する検知手段と、変調出力信号を復調して前記試料の磁気特性に関連する出力を発生する復調手段と、を備える装置。
IPC (2件)：
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