特許
J-GLOBAL ID：200903054553182059

現像ギャップ長測定装置及び現像ギャップ長測定方法

発明者：
内田 圭亮

内田 圭亮 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-356410
公開番号（公開出願番号）：特開2008-165064
出願日： 2006年12月28日
公開日（公表日）： 2008年07月17日
要約：
【課題】現像剤担持体の表面に現像剤が存在し、磁気穂立ちを形成している状態においても、適切に現像ギャップ長を測定することが可能な現像ギャップ長測定装置及び現像ギャップ長測定方法を提供する。【解決手段】現像ユニットの現像ギャップGの上方に設置されたX線発生装置20から現像ローラ2と現像ギャップGと感光体ドラム1に対してX線を照射し、これらの物質を透過した透過X線を対向する図示しないシンチレータに照射される。透過X線を検出することによってシンチレータで発光した光は、微弱のためイメージインテンシファイヤー21を用いて光を増幅させ、この増幅光は、更に対向するCCD等の撮像装置22によって画像データとして取得し、この画像データから現像ギャップ長を測定する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
表面に現像剤を担持する現像剤担持体と、画像を静電潜像として担持する潜像担持体と、前記現像剤担持体が担持している現像剤を前記潜像担持体に供給する現像ギャップ領域とに放射線を照射する放射線源と、 前記現像剤担持体、潜像担持体及び現像ギャップ領域を透過した放射線を検出して前記現像剤担持体、現像ギャップ領域及び潜像担持体の画像を記録する画像記録手段と、を備えたことを特徴とする現像ギャップ長測定装置。
IPC (3件)：
G03G 21/00 ,  G03G 15/08 ,  G01B 15/00
FI (3件)：
G03G21/00 ,  G03G15/08 507K ,  G01B15/00 H
Fターム (26件)：
2F067AA25 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL14 ,  2F067LL16 ,  2F067NN03 ,  2F067RR14 ,  2H077AB02 ,  2H077AB12 ,  2H077AB18 ,  2H077AC02 ,  2H077AD02 ,  2H077AD06 ,  2H077AD13 ,  2H077AD24 ,  2H077AE06 ,  2H077BA07 ,  2H077DA32 ,  2H077DA43 ,  2H077DA47 ,  2H077DA64 ,  2H077EA03 ,  2H077GA03 ,  2H077GA04 ,  2H134QA01
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 静電荷像現像装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-238271   出願人：株式会社日立製作所

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