特許
J-GLOBAL ID：200903054595391030
磁気ディスク製造工程での外径部のロールオフを決定する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔 (外6名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-519908
公開番号（公開出願番号）：特表平10-506216
出願日： 1995年12月14日
公開日（公表日）： 1998年06月16日
要約：
【要約】ディスクドライブに使用すべき磁気ディスクを試験する方法を開示する。本発明の方法は、ディスク(22)の半径方向外縁部の高さプロファイルを測定し、この高さプロファイルを使用して、ディスクの1対の半径方向のセグメント(54)の各々についてスロープ値を決定し、対をなすスロープ値間の差分値を計算し、差分値と予め選択した閾差分値とを比較し、差分値が閾差分値に等しいかこれより小さいときにはこれを提示する工程を有する。閾差分値は、ヘッド(46、48)のフライ高さ作動が依然として安定している場合のディスクの最外径を表示する。
請求項（抜粋）：
ディスクの半径方向外縁部の高さプロファイルを測定する工程と、 この高さプロファイルを使用して、前記ディスクの半径方向の一連のセグメントの各々についてスロープ値を決定する工程と、 対をなすスロープ値を選択し、各対のスロープ値について、対をなすスロープ値間の差分値を計算する工程と、 各々の差分値と所定の閾差分値とを比較する工程と、 この閾差分値に等しいか、これより小さい差分値を示す工程と、 を有するディスクドライブ用の磁気ディスクを試験する方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G11B 5/84 C
, G11B 21/21 G
