特許
J-GLOBAL ID：200903054599950220
妨害波耐力試験方法及び電波暗室
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 恵一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-150090
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322952
出願日： 1992年05月19日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】 装置の再現性のよい妨害波耐力試験を行なうための供試機器に印加する電磁界の規定方法と、規定した電磁界を実現する電波暗室を提供することを目的とする。【構成】 電子回路を内蔵する電子装置に電磁波を人工的に照射し、その機器がどの程度の電磁界強度まで正常に動作するかを試験する妨害波耐力試験において、供試機器に印加する電磁界を、半無限平面上を伝搬する平面波の電磁界分布を基準とする。これを実現する電波暗室は、供試体と放射アンテナの間の床に電波吸収体を配置し、供試体に近い側の電波吸収体の床面からの高さが、放射アンテナに近い側のものよりも低く、かつ、放射アンテナと供試体を結ぶ線を越えない。
請求項（抜粋）：
電子回路を内蔵する電子装置に電磁波を人工的に照射し、その機器がどの程度の電磁界強度まで正常に動作するかを試験する妨害波耐力試験において、供試機器に印加する電磁界を、半無限平面上を伝搬する平面波の電磁界分布を基準とすることを特徴とする、妨害波耐力試験方法。
IPC (3件)：
G01R 31/00
, G01R 29/10
, G01R 31/30
