特許
J-GLOBAL ID：200903054608334503
計測装置、及び計測データを含む文書の解析処理装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-145738
公開番号（公開出願番号）：特開2004-350085
出願日： 2003年05月23日
公開日（公表日）： 2004年12月09日
要約：
【課題】各種の計測や分析によって取得されたデータを用いた報告書などを作成する際に、その報告書の計測データの改竄を防止して信頼性を向上する。【解決手段】計測部10により得られた各種のグラフ、数値のテーブル等の計測結果であるテキストデータ等は計測データ画像化部16により所定形式の画像データに変換される。一方、認証データ生成部19は、計測日時等の計測情報と装置特定化情報保持部18に記憶されている製造番号等の装置特定化情報とを組み合わせた個体識別情報から認識データを生成し、電子透かし埋め込み部17は計測データの画像に認証データを電子透かしとして埋め込む。この透かし付き画像を計測データとして保存し、報告書等の電子文書作成時に貼り付けたり挿入したりする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
a)対象物を計測して物理量又は化学量を取得する計測手段と、
b)その計測結果を所定形式の画像情報に変換する画像情報取得手段と、
c)当該装置及び/又は前記計測に関連した情報を含む認証データを生成する認証データ生成手段と、
d)該認証データを前記画像情報に電子透かしとして埋め込む電子透かし埋め込み手段と、
を備えることを特徴とする計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04N1/387
, G09C1/00 640D
5C076AA14
, 5C076BA06
, 5J104AA14
