特許

J-GLOBAL ID：200903054645199659

物体表面異常状態の評価方法

発明者： 木藤 正章 ,  前田 修一
出願人/特許権者： 宇部興産株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-090601
公開番号（公開出願番号）：特開2001-280939
出願日： 2000年03月29日
公開日（公表日）： 2001年10月10日
要約：

【要約】【課題】 プラスチック成形品の表面に発生する風合いの変化や色むらなどを、動画像計測処理技術を用いて物体表面全域にわたり連続的に、かつ、効率的に検査して物体表面の異常を判別する。【解決手段】 二次元画像の座標を決定した後、前記座標に入る反射光がサンプルの表面上のどの位置の微小領域から反射した光であるかを計算し、該サンプル3の特定位置の表面状態を表す輝度として記憶するといった処理を行ない、複数枚の二次元画像に取り込まれた該サンプル3の表面の特定位置の表面状態を表す輝度を積算して平均化する。そして、サンプル3の特定位置を変えて、この処理を繰り返す事によって、サンプル3全体にわたっての輝度分布を求めることができ、その結果得られた輝度の分布を見ることによってウェルドラインやフローマークの検出を行なうことができる。

請求項（抜粋）：

物体の表面にスリット光源を投射してその反射光をカメラで撮影する際において、該物体を該光源や該カメラに対して相対運動させるとともに、画像処理装置に該相対運動中得られた反射光を画像として連続的に入力し処理することにより、該物体表面の異常を検出する物体表面異常状態の評価方法において、前記入力した反射光が反射した物体表面の位置を計算し、該位置による該反射光の輝度を該反射光が入力された複数枚の画像において積算して平均化することにより、該物体表面の異常を検出することを特徴とする物体表面異常状態の評価方法。

IPC (3件)：

G01B 11/30 ,  G01B 11/26 ,  G01N 21/88

FI (3件)：

G01B 11/30 A ,  G01B 11/26 H ,  G01N 21/88 J

Fターム (45件)：

2F065AA01 ,  2F065AA15 ,  2F065AA17 ,  2F065AA35 ,  2F065AA49 ,  2F065BB13 ,  2F065BB15 ,  2F065BB27 ,  2F065CC00 ,  2F065CC15 ,  2F065DD06 ,  2F065EE03 ,  2F065FF42 ,  2F065FF44 ,  2F065FF61 ,  2F065FF64 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL28 ,  2F065MM03 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2G051AA32 ,  2G051AB12 ,  2G051BB07 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA12 ,  2G051EA17 ,  2G051EC10 ,  2G051FA01