電子部品診断装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：広瀬和彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-062378
公開番号（公開出願番号）：特開2002-259158
出願日： 2001年03月06日
公開日（公表日）： 2002年09月13日
要約：

【要約】【課題】複数個の電子部品の異常検出処理を分割して異なる演算周期で行うことにより、1周期中での異常検出用の処理時間を短縮し、信頼性を向上させる。【解決手段】 CPU17は、トルクセンサ3、車速センサ4、コントロールユニット5、電動モータ6、モータ駆動回路11、電源リレー16、プリドライバ18、記憶部19、サブCPU20等を含めた多数の電子部品を複数のグループG1,G2,G3,G4毎に分割し、各グループ毎の電子部品の異常検出処理をそれぞれ異なる演算周期で順次実行する。これにより、モータ制御用の演算処理等を微小な演算周期で高速に行う必要がある場合でも、この演算処理の合間に多数の電子部品の異常検出処理を無理なく実行でき、信頼性を向上させることができる。

請求項（抜粋）：

複数個の電子部品が接続され該各電子部品との間で信号を入力または出力するための演算処理を一定の演算周期で繰返し実行する処理装置と、該処理装置に接続された前記複数個の電子部品の異常検出処理を行う異常検出手段とからなる電子部品診断装置において、前記異常検出手段は、前記複数個の電子部品を複数のグループに分割し、該各グループ毎の電子部品の異常検出処理をそれぞれ異なる演算周期で順次行う構成としたことを特徴とする電子部品診断装置。

IPC (5件)：

G06F 11/22 360 , B62D 6/00 , G01R 31/00 , B62D101:00 , B62D119:00

FI (5件)：

G06F 11/22 360 L , B62D 6/00 , G01R 31/00 , B62D101:00 , B62D119:00

Fターム (15件)：

2G036AA19 , 2G036AA27 , 2G036AA28 , 2G036BA12 , 2G036BA35 , 2G036BA36 , 2G036CA06 , 2G036CA08 , 2G036CA11 , 3D032CC32 , 3D032CC38 , 3D032DA15 , 3D032DA23 , 5B048AA14 , 5B048CC14

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平2-307128
特開昭56-067459
特開昭61-011855

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