特許
J-GLOBAL ID：200903054669466704
化合物の状態別同定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小谷 悦司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-217731
公開番号（公開出願番号）：特開2001-041911
出願日： 1999年07月30日
公開日（公表日）： 2001年02月16日
要約：
【要約】【課題】 シンクロトロン放射光施設におけるX線マイクロビーム装置といった大掛かりな装置を用いなくとも、実験室型のEPMA装置を用いて、相別等の状態別マッピングを撮像して化合物の状態別の同定を可能にする方法を提供する。【解決手段】 EPMAにおける放射的オージェ効果に起因したサテライトピークを用いることにより、分析試料において分子を構成している原子の結合状態を判別して化合物を同定する。具体的には、分析試料を構成する物質の標準スペクトルに基づいて、前記サテライトピークのX線強度の差が大きい波長を選択し、上記波長にコリメータを固定して試料を移動させることによりX線強度差を撮像した2次元分布像を用いればよく、本発明方法によれば相の異なる化合物を区別することも可能である。
請求項（抜粋）：
EPMAにおける放射的オージェ効果に起因したサテライトピークを用いることにより、分析試料において分子を構成している原子の結合状態を判別して化合物を同定することを特徴とする化合物の状態別同定方法。
Fターム (21件)：
2G001AA03
, 2G001BA05
, 2G001CA01
, 2G001FA02
, 2G001FA03
, 2G001FA06
, 2G001FA25
, 2G001FA30
, 2G001GA01
, 2G001GA06
, 2G001HA13
, 2G001JA05
, 2G001JA07
, 2G001JA11
, 2G001KA01
, 2G001KA13
, 2G001MA04
, 2G001NA20
, 2G001PA11
, 2G001RA01
, 2G001SA02
