特許
J-GLOBAL ID:200903054677463781

送電線の腐食寿命診断方法及び腐食寿命診断線並びにその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 絹谷 信雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-334810
公開番号(公開出願番号):特開2001-155563
出願日: 1999年11月25日
公開日(公表日): 2001年06月08日
要約:
【要約】【課題】 目視による送電線の腐食寿命診断を正確かつ容易に行うことができる新規な送電線の腐食寿命診断方法及び腐食寿命診断線並びにその製法の提供。【解決手段】 アルミ線2の表面に蛍光層3を形成すると共にその蛍光層3の表面を遮光性の被覆層4で被覆した腐食寿命診断線1を形成し、これを送電線の一部又は全部として組み込み、その腐食寿命診断線1の被覆層4が腐食して蛍光層3が表面に露出したときに、その露出した部分の発光状態を目視により直接又は間接的に観察してその腐食寿命診断線1の腐食状況を診断する。これによって目視による送電線の腐食劣化による寿命診断を正確かつ容易に行うことができる。
請求項(抜粋):
アルミ線の表面に蛍光材料を含む蛍光層を形成すると共にその蛍光層の表面を遮光性の被覆層で被覆した腐食寿命診断線を形成し、この腐食寿命診断線を複数の導電線からなる送電線の一部又は全部として組み込み、あるいはその送電線の周囲に巻き付けておき、その腐食寿命診断線の被覆層が外的影響により腐食してその蛍光層が表面に露出したときに、その露出した部分の発光状態を目視により直接又は間接的に観察してその腐食寿命診断線の腐食状況を診断して上記送電線の寿命を予測するようにしたことを特徴とする送電線の腐食寿命診断方法。
IPC (2件):
H01B 13/00 ,  G01N 17/00
FI (2件):
H01B 13/00 C ,  G01N 17/00
Fターム (11件):
2G050AA01 ,  2G050AA04 ,  2G050BA04 ,  2G050BA05 ,  2G050BA06 ,  2G050CA01 ,  2G050DA01 ,  2G050EA02 ,  2G050EA06 ,  2G050EB07 ,  2G050EC06
引用特許:
審査官引用 (5件)
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