特許

J-GLOBAL ID：200903054710562626

試料台および分析装置

発明者： 上野 理恵
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 谷 義一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-027566
公開番号（公開出願番号）：特開平11-230968
出願日： 1998年02月09日
公開日（公表日）： 1999年08月27日
要約：

【要約】【課題】 試料の識別を、迅速かつ確実に行うことが可能な試料台および分析装置。【解決手段】 試料台11に個々の試料14の識別を表示する標識手段12,13を設け、この標識手段12,13を機械的、光学的、電気的または磁気的な読取手段を用いて読み取ることによって、試料14の識別を行う。

請求項（抜粋）：

機器分析を行う際に用いる試料台であって、個々の試料の識別を表示し、かつ、機械的または光学的または電気的または磁気的な読取手段によって読み取りが行える識別手段を具えたことを特徴とする試料台。

IPC (3件)：

G01N 35/02 ,  G01N 35/04 ,  H01J 37/20

FI (3件)：

G01N 35/02 C ,  G01N 35/04 G ,  H01J 37/20 A