特許
J-GLOBAL ID:200903054756162592

実装ボード解析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岩佐 義幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-116746
公開番号(公開出願番号):特開平6-331710
出願日: 1993年05月19日
公開日(公表日): 1994年12月02日
要約:
【要約】【目的】 実装ボードの回路テストおよび故障解析において、各々の位置の電位を光学的に検出することにより、動作状態で各部品または配線パターンの故障解析を行い、故障箇所を特定する。【構成】 実装ボード19の全面もしくは一部上に配置した電圧検出センサ11に、走査型レーザ送受部1からレーザ光を照射し、その反射光を偏光検出部2にて電圧に変換する。偏光検出部2からのレーザ光照射位置情報と電圧信号とから、信号処理部3にて、配線部およびスペースの論理を判定し、CAD情報との比較を行う。
請求項(抜粋):
電気光学効果物質の表面に透明電極を設け、裏面に格子点状に突起状の導電性反射膜並びにこの導電性反射膜に密着させて軟らかい導電物質もしくは誘電物質を設けた構造を有し、被測定実装ボードの全面もしくは一部に予め設置され、前記透明電極にはバイアス電圧が印加される電圧検出センサと、前記電圧検出センサに上方からレーザ光を走査し、その反射光を受ける走査型レーザ送受部と、この走査型レーザ送受部から反射光を入力し、電圧を検出する偏光検出部と、この偏光検出部からの位置信号と電圧信号をもとに配線部とスペース部を判定し、さらに配線部の電圧から論理レベルを判定し、CAD情報との比較を行う信号処理部と、を備えることを特徴とする実装ボード解析装置。
IPC (3件):
G01R 31/302 ,  G01R 15/07 ,  G01R 19/00
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平3-180778
  • 特開平2-062979

前のページに戻る