特許

J-GLOBAL ID：200903054756216790

開先形状計測方法及び開先形状計測装置

発明者： 穴水 孝 ,  萬來 雄一 ,  水上 清二 ,  壬生 生男 ,  伊藤 浩司
出願人/特許権者： 東京瓦斯株式会社 ,  株式会社日立エンジニアリングサービス
代理人 (1件)： 渡部 温
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-357617
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197220
出願日： 1996年12月29日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：

【要約】【課題】 開先壁の切り立った狭開先を、安価な装置で素早く計測できる開先形状計測方法及び開先形状計測装置を提供する。【解決手段】 開先形状計測装置10は、レーザ変位計11と、その走査手段13と、演算手段19とからなる。図1(B)は、レーザ変位計11を走査しながら開先形状を計測して得られるデータであり、レーザ変位計の信号をZ軸に、走査手段の信号をY軸にプロットしている。1ピッチでZ値が垂直壁5の高さ以上変化した点の間、BとC、GとHの間に垂直壁5、5′が存在し、垂直壁5の高さ未満でリップ部垂直壁7の高さ以上変化した点の間、DとE、EとFの間にリップ部垂直壁7、7′が存在することが分る。

請求項（抜粋）：

溶接開先の開き側においてレーザ変位計を開先の左右方向(溶接線と交差する方向)に走査し、該レーザ変位計から溶接開先表面までの距離を測定することにより該開先の断面形状を計測することを特徴とする開先形状計測方法。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  B23K 9/095 510 ,  B23K 9/127 506

FI (3件)：

G01B 11/24 C ,  B23K 9/095 510 E ,  B23K 9/127 506 Z