特許

J-GLOBAL ID：200903054778704372

SDI測定方法、SDI測定装置、及び逆浸透膜を用いた造水方法

発明者： 岩堀 博 ,  安藤 雅明 ,  石原 悟
出願人/特許権者： 日東電工株式会社
代理人 (4件)： 鈴木 崇生 ,  梶崎 弘一 ,  尾崎 雄三 ,  谷口 俊彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-269662
公開番号（公開出願番号）：特開2004-108864
出願日： 2002年09月17日
公開日（公表日）： 2004年04月08日
要約：

【課題】分離膜の汚染リスクを事前に予測し、その後の膜プロセスを安定運転するために、常に高精度のSDI値を算出することのできるSDI測定方法を提供することにある。また、該方法によりSDI値を測定する工程を含む逆浸透膜を用いた造水方法を提供することにある。【解決手段】測定用の分離膜供給液に予め3MPa以上の圧力を掛け、その後ASTMに規定の圧力下で測定を行うことを特徴とするSDI測定方法。【選択図】 なし

請求項（抜粋）：

測定用の分離膜供給液に予め3MPa以上の圧力を掛け、その後ASTMに規定の圧力下で測定を行うことを特徴とするSDI測定方法。

IPC (5件)：

G01N15/08 ,  B01D61/10 ,  C02F1/00 ,  C02F1/44 ,  G01N33/18

FI (6件)：

G01N15/08 C ,  G01N15/08 B ,  B01D61/10 ,  C02F1/00 V ,  C02F1/44 H ,  G01N33/18 A

Fターム (12件)：

4D006GA03 ,  4D006HA01 ,  4D006HA21 ,  4D006HA41 ,  4D006HA61 ,  4D006KA52 ,  4D006KA55 ,  4D006KA67 ,  4D006KE30P ,  4D006PA01 ,  4D006PB03 ,  4D006PB08