特許
J-GLOBAL ID:200903054817513792
蛍光相関分析装置および蛍光相関分析方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
鈴江 武彦
, 村松 貞男
, 坪井 淳
, 河野 哲
, 風間 鉄也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-238266
公開番号(公開出願番号):特開2004-077294
出願日: 2002年08月19日
公開日(公表日): 2004年03月11日
要約:
【課題】FCSによる蛍光分子の計測において、蛍光分子を安定に解析するための蛍光相関分析装置および方法を提供すること。【解決手段】レーザ光源と;前記レーザ光源からの光ビームを試料に集光し共焦点領域を形成する光学系と;前記試料からの蛍光を集光する光学系と;集光した蛍光を検出する光検出器とを有し、前記試料に所定時間光ビームを照射後、前記光検出器により試料からの蛍光を検出し蛍光相関分析をおこなうとともに、同一試料について得られた異なる分析結果と総合して検査を行うことを特徴とする蛍光相関分析装置。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
レーザ光源と、
前記レーザ光源からの光ビームを試料に集光し共焦点領域を形成する光学系と、
前記試料からの蛍光を集光する光学系と、
集光した蛍光を検出する光検出器とを有し、
前記試料に所定時間光ビームを照射後、前記光検出器により試料からの蛍光を検出し蛍光相関分析をおこなうとともに、同一試料について得られた異なる分析結果と総合して検査を行うことを特徴とする蛍光相関分析装置。
IPC (2件):
FI (4件):
G01N21/64 E
, G01N21/64 B
, G01N21/64 F
, G01N33/483 C
Fターム (34件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043HA15
, 2G043JA02
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043NA01
, 2G043NA02
, 2G045CB01
, 2G045DA36
, 2G045FA12
, 2G045FA16
, 2G045FB07
, 2G045FB12
, 2G045GC15
, 2G045JA01
, 4B063QA01
, 4B063QQ05
, 4B063QQ79
, 4B063QR33
, 4B063QR60
, 4B063QR66
, 4B063QR74
, 4B063QR80
, 4B063QS05
, 4B063QS36
, 4B063QX02
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