特許
J-GLOBAL ID:200903054826844068
PTPシール検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
富澤 孝 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-218853
公開番号(公開出願番号):特開2000-055640
出願日: 1998年08月03日
公開日(公表日): 2000年02月25日
要約:
【要約】【課題】 照度変化の影響を受けず、しわのような細かく、かつ不規則な不良を検出でき、印刷物の影響を受けないPTPシール検査装置を提供すること。【解決手段】 PTPシートSに光を照射する光源14と、PTPシートSから反射する映像を撮像する第一カメラ11と、PTPシートから反射する映像を撮像する第二カメラ12と、第一カメラ11が撮像した映像データをフーリエ変換して、第一位相情報を得て、第二カメラ12が撮像した映像データをフーリエ変換して、第二位相情報を得て、第一位相情報と第二位相情報との相関関係を演算する位相限定相関プログラム21と、位相限定相関プログラム21が求めたピーク値からPTPシートSのシール不良を検出するシール不良判定プログラム22とを有している。
請求項(抜粋):
PTPシートに光を照射する光源と、前記PTPシートから反射する映像を撮像する第一カメラと、前記PTPシートから反射する映像を撮像する第二カメラと、前記第一カメラが撮像した映像データをフーリエ変換して、第一位相情報を得て、前記第二カメラが撮像した映像データをフーリエ変換して、第二位相情報を得て、前記第一位相情報と前記第二位相情報との相関関係を演算することにより、前記PTPシートのシール不良を検出するシール不良判断手段とを有することを特徴とするPTPシール検査装置。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (21件):
2F065AA61
, 2F065CC00
, 2F065DD11
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065HH02
, 2F065HH12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065LL26
, 2F065PP12
, 2F065QQ16
, 2F065QQ31
, 2F065RR07
, 2F065TT02
, 2F065UU05
, 3F079AD00
, 3F079CA42
, 3F079CB25
, 3F079CB34
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