特許

J-GLOBAL ID：200903055022949670

粒状物寸法測定装置及びこれを備えた粒状物選別装置

発明者： 山田 孝行
出願人/特許権者： 浜松ホトニクス株式会社
代理人 (1件)： 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-201762
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033214
出願日： 1999年07月15日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：

【要約】【課題】 投光器からの光量の変化に依らず、測定が可能な粒状物寸法測定装置及びこれを備えた粒状物選別装置を提供する。【解決手段】 測定領域に配された粒状物に光を照射する投光手段と、測定領域を介して投光手段と対向して配置され、投光手段からの光を受光する受光手段と、受光手段における受光量に基づいて、粒状物の寸法を測定する測定手段とを備え、測定手段は、測定領域に粒状物が存在しない場合の受光量を基準光量データとして、これと個別の粒状物の光量データとの比から粒状物の寸法を測定することを特徴とする。また、粒状物選別装置は、上記粒状物寸法測定装置を備えることを特徴とする。このように測定領域に粒状物が存在しない場合の基準光量データと個別の粒状物についての光量測定データの比を計算して、粒状物の寸法を測定することにより、投光量の変化に左右されない測定を行うことができる。

請求項（抜粋）：

測定領域に配された粒状物に光を照射する投光手段と、前記測定領域を介して前記投光手段と対向して配置され、前記投光手段からの光を受光する受光手段と、前記受光手段における受光量に基づいて、前記粒状物の寸法を測定する測定手段と、を備え、前記測定手段は、前記測定領域に前記粒状物が存在しない場合の受光量を基準光量データとし、前記測定領域に前記粒状物が存在する場合の受光量と前記基準光量との差である粒状物光量データを算出し、前記基準光量データと前記粒状物光量データの比から、前記粒状物の寸法を算出することを特徴とする粒状物寸法測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/02 ,  B07C 5/10 ,  G01N 21/85

FI (3件)：

G01B 11/02 Z ,  B07C 5/10 ,  G01N 21/85 A

Fターム (37件)：

2F065AA23 ,  2F065BB07 ,  2F065BB24 ,  2F065DD03 ,  2F065EE03 ,  2F065FF02 ,  2F065HH03 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ01 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F065TT03 ,  2G051AA04 ,  2G051AA90 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051CA02 ,  2G051CA07 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  3F079AC14 ,  3F079AC15 ,  3F079BA06 ,  3F079CA26 ,  3F079CA41 ,  3F079CB32 ,  3F079CB34 ,  3F079CB35 ,  3F079CC03 ,  3F079DA06 ,  3F079EA01 ,  3F079EA16